Low Temperature Physics: 29, 353 (2003); https://doi.org/10.1063/1.1542480 (3 pages)
Физика Низких Температур: Том 29, Выпуск 4 (Апрель 2003), c. 469-472    ( к оглавлению , назад )

Электронографическое исследование среднеквадратичных смещений атомов в свободных кластерах криптона

В.В. Еременко, С.И. Коваленко, Д.Д. Солнышкин

Физико-технический институт низких температур им. Б.И. Веркина НАН Украины пр. Ленина, 47, г. Харьков, 61103, Украина
E-mail: verkhovtseva@ilt.kharkov.ua

Статья поступила в редакцию 3 октября 2002 г., после переработки 4 ноября 2002 г.

Аннотация

С помощью электронографической методики впервые определена размерная зависимость среднеквадратичной амплитуды атомов < u 2 > 1/2 в свободных кластерах криптона. Средний размер кластеров N̅ сформированных в сверхзвуковых струях криптона, изменялся от 1×103 до 2×104 атомов/кластер. Установлено, что при уменьшении размера кластеров < u 2 > 1/2 увеличивается. Сопоставление наблюдавшейся зависимости с расчетной, учитывающей долевой вклад поверхностных атомов, показало, что для кластеров с N̅≥4×103 атомов/кластер увеличение < u 2 > 1/2 при уменьшении N̅ обусловлено только ростом относительного числа поверхностных атомов. Корреляция между расчетом и экспериментом исчезает, когда N̅≤4×103 атомов/ кластер. В этом случае экспериментальные значения заметно превышают расчетные, указывая тем самым на то, что в малых агрегациях помимо поверхности действуют также и другие факторы, способствующие росту < u 2 > 1/2.

PACS:
61.46+w -
81.10.Aj - Theory and models of crystal growth; physics of crystal growth, crystal morphology, and orientation